手機電磁兼容測試:ESD靜（jìng）電放電問題盤點（diǎn）

靜電放電（ESD）的破壞作用具有隱（yǐn）蔽性、潛在性、隨機性和（hé）複雜（zá）性的特點。來自Intel的資料表（biǎo）明，在引起電子器件故障的諸多因素中，ESD是最大的隱患。所以，模擬靜電放電的測試在（zài）世界範圍內得到廣泛關注（zhù）。

手機靜電放電失效的具體表現

1. 手機通話中斷。
2. 手機部分功能（néng）失效，但試驗結束後或重新啟動手機，可以恢複（fù）正常。具體表（biǎo）現為：屏幕顯示異常，如白（bái）屏、條紋、亂碼、模糊等；通話異常，如（rú）嘯叫聲或聲音時斷時續；按鍵（觸摸屏）功能異常；軟（ruǎn）件誤報警，例如並未（wèi）進行充電器插拔，卻頻繁提示“充電已連接、充電器（qì）已移除"。
3. 手機自動關機或重新啟動。可（kě）能發生（shēng）在通話狀態或待機狀態。
4. 手機失效或損壞。如攝像頭等部分器（qì）件損壞；手機與充電器相（xiàng）連進行測試時，充電器也可能出現失效、損壞甚至爆炸等（děng）問題。

手（shǒu）機靜電放電（diàn）失效的具體分析

手機靜電（diàn）放（fàng）電失效（xiào）的改進建議

盡量選擇靜電敏感度等（děng）級高的器（qì）件。器件與（yǔ）靜電源隔離，減少回路麵積(麵積越（yuè）大，所（suǒ）包含的場流量越大，其感（gǎn）應（yīng）電流越大)。具體的措（cuò）施可能包括：走線越短越（yuè）好；電源與（yǔ）地越接近越好；存在多組電（diàn）源和地時，以格子方（fāng）式連接（jiē）；太長的信號（hào）線（xiàn）或電源（yuán）線宜與地線交錯布置；信號線越靠近地（dì）線越好；同一特性器（qì）件越近越好；盡量在PCB上使（shǐ）用（yòng）完整的地平麵，PCB接地麵積越大越好，不要有大的缺口，PCB的接地線要低阻抗；電源、地布（bù）局在板中間比在四周好；在電源和地之間放置高頻旁路電容；保護靜（jìng）電敏感的元器件。