高頻（pín）噪聲模擬器（使用半導體繼電器）　INS-S420

為（wéi）了解決市場上出現的問題

此（cǐ）設（shè）備是模擬（nǐ）類似開關元件觸點之間的放電，電子馬（mǎ）達產生的電弧放電（diàn）等，上升時間很快，高頻率的噪聲，來評價電子設備（bèi）的抗幹擾能力的測試設備。

因為包含測試脈衝中（zhōng）的頻率成分的脈衝寬度很寬，另外通過改變（biàn）脈衝的寬度，也可以改變脈衝能（néng）量的強度，能實現市場上對於噪聲問題的再現性很高的噪聲測試。

• 由於脈（mò）衝寬度等的（de）設定（dìng）隻需（xū）按鈕操作即可進（jìn）行，因此可（kě）以縮短設（shè）定試驗條件（jiàn）的時間。

• 提高了測（cè）試脈衝（chōng）波形的穩定性，實現（xiàn）了高重複性的測試。

• 減少耗（hào）材（cái）數量，降低成本。

• 通過使用短插頭，可以輕鬆地設置共模（mó）測試和差模測試之間的切換。

• 通過TEST TIME的設定，可以設定測試時間。

• 在測試器中內置（zhì）50歐姆係統終端器，便於布線。

• 可以在更快的脈衝重複周期進行測試。（僅限INS-S220）

• 插座麵板允許（xǔ）直接連接EUT交流插頭。（可（kě）選）

• 使用各種探頭，耦合夾等進行各種測試。（可選（xuǎn））

• 通過增加外置疊加（jiā）單元(CDN)，還可以測試EUT電源容量三相。（可選）

• 使用（yòng）專用軟件可以在各種測試條件下進行測試。（可選，僅限INS-S420）

解（jiě）決市場上出現的問題：高頻率，能量（liàng）可調試驗脈衝

脈（mò）衝寬度小的50ns～100ns程度的高頻（pín）噪聲，能量是比較小，但是短時間內2次的波形上升以及下降（jiàng）造成的電壓變動，急速變動時發生的電磁場的耦合可以影響電子回路。
另（lìng）外，脈衝（chōng）寬度寬的（de）800ns～1000ns 的高頻噪聲（shēng），因為能量比較大（dà），能容易地給回路施加很大的電壓變動。高頻噪聲測試與國際標準IEC 61000-4-4群脈衝測試相比較，因為上升時間快，頻率成分（fèn）高是他的（de）特征。這樣對EUT施加幹擾時，更容易侵入電路，更容易（yì）影響電子回路。

還有，由於高（gāo）頻噪聲的脈（mò）衝寬度不同，包含的頻（pín）譜的成分及強度也不同，建議用不（bú）同脈衝寬度的田間進行多種類測試。

設置的簡單化：能縮短設置上所花的時間

舊型號的脈衝寬度設置需要手動（dòng）地用（yòng）專用的同軸電纜連接切換，但是新型號隻需要操作按鈕就能進（jìn）行設定，縮（suō）短了設定的時間以（yǐ）及減少了連（lián）線錯誤的情況。

成本的削減：減少了（le）消（xiāo）耗品（pǐn）的交（jiāo）換

由原來的水銀繼電器方式（消耗品）改成半導體繼電器。

另外，因為（wéi）不使用（yòng）脈衝寬度設置用同軸線。

連接的簡略化：能縮短連接上所花的時間

跟EUT的連接（jiē）采用簡單的輸（shū）出麵板的方式。使用（yòng）各個國家的插座形狀的輸出麵板，能（néng）非（fēi）常簡單的進行連接。

對噪聲容易進行整改（gǎi）：能夠判定（dìng）誤動作產生源

我們準備了從電源線，通信（xìn）線（xiàn），線束和外殼到基板的各種各樣的幹擾施加用選件，更能容（róng）易的找出誤動（dòng）作發生處。

規格