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液晶顯示(shì)屏的ESD和EOS怎麽破

更新時間:2022-04-13      點擊次數:1529

越來越多(duō)的電子產品加上液晶屏,包括手機觸摸屏,平板(bǎn)電腦觸摸屏和數碼相機觸摸屏。這些麵板和主板之間最常見的數據連接接(jiē)口是MIPI(移動行業處理器接口)。通過添加小型TVS  ESD靜(jìng)電保(bǎo)護解決方(fāng)案並提高ESD和EOS耐受水平,可以大大減少電子產品在日常生活中受到幹擾甚(shèn)至被破壞的機會,從而延長了產品的使用壽(shòu)命,降低了返修率,從而使消費者對產品的信任度更(gèng)高,同(tóng)時也提高了品牌聲譽。

隨著小型智(zhì)能(néng)產品的普及,各種消費電子產品正在(zài)快速變化,並且越來越(yuè)多的集成和複雜的產品已經出現。麵板顯(xiǎn)示(shì)技術(shù)也發生了(le)前.所.未有的(de)變(biàn)化。隨著顯(xiǎn)示麵板分辨率的(de)提高,數據傳輸變得更加複雜和快速。但是,這也(yě)使數據傳輸更容易(yì)受到(dào)外部幹擾,最常見的幹擾因素是ESD和EOS。如何有效地保護麵板,避(bì)免ESD/ EOS攻擊對功能運行甚至損害的影響,是我們亟待解決的(de)問題。

1.什麽是ESD/ EOS?

ESD是靜電放電。這是(shì)由於摩擦,電(diàn)感等引起的電位差導致兩個物體彼(bǐ)此靠近或彼此(cǐ)直接接觸時發生電荷轉移的現象。在(zài)現實生活中,特別是在濕度較(jiào)低的環境中,ESD事件經常發生。例如,如果在冬天(tiān)摩擦雙手後觸摸門把手,則會感覺到觸電,冬天睡覺前脫下毛衣時產(chǎn)生(shēng)的電弧以及下雨天的閃電。這些實際上是發生在我們(men)身上的ESD事件。

幹燥的環境可能導(dǎo)致我們的身體攜帶數十萬伏特的靜電。如果(guǒ)觸摸沒有保(bǎo)護的電(diàn)子設備(例如手機)的屏幕,ESD將通過麵板的FPC進入電子設備(bèi)的內(nèi)部電路,並立即釋(shì)放高達數十安培的電(diàn)流。如今,半(bàn)導體工藝技(jì)術變得越來越複雜,最.先.進的工藝技術已(yǐ)達到7nm。但是,如此昂貴的高.端IC芯片(piàn)本身卻沒有(yǒu)以前那麽好的(de)ESD耐受性,這(zhè)使得使用該(gāi)芯片的先進電子設備麵(miàn)臨巨大挑戰。在較小的情況下,ESD事件會幹擾電子設(shè)備的正常運行。在嚴重的情況下,ESD可能會直接破壞電子設備的內部IC芯片,

EOS是電氣過應力。當外部電流或電壓超過設備或電子產品的最大規格時,產品性能(néng)可能會減弱甚至損壞。EOS的(de)產生有多種情(qíng)況,包(bāo)括電源不穩定引起的電(diàn)湧,熱插拔引起的瞬態浪湧(yǒng)電流(liú),雷擊產(chǎn)生的瞬態感應(yīng)電流以及(jí)測(cè)試過程中接(jiē)線錯誤……

2.電(diàn)源ESD/ EOS解決方案

對於(yú)電子設備的係(xì)統級(jí)測試,使用的靜電測試環境必須符合IEC61000-4-2標準。標準文件中規(guī)定了接觸放(fàng)電和空氣放電的兩種測試方法。針對不同的環境和電子產品,品(pǐn)牌製造商可以根(gēn)據實際應用環境和需求設置相(xiàng)應的測試級別。對於小型麵板產品,通常建議執行±8kV的接觸放電和±15kV的空(kōng)氣放電測試。建立合理的測試標準可以提高產品的可靠性並降低產品退貨(huò)率。

除(chú)了ESD測試外,許多小尺寸麵板(bǎn)產品還通過8/20μs的浪湧波形來完成EOS測試。該測試(shì)是根據IEC61000-4-5標準文件執行的。測試電壓等級和(hé)測試的(de)位置也由客戶根據實際情況進行。目前,國(guó)內外許多知.名手(shǒu)機品牌已經製定了相關的測試標(biāo)準,主要針對VSP,VSN,VCI(1.8V)電源。由於FPC組件領域的空間(jiān)限製,它可(kě)以利用單個DFN1006(0402)封裝甚(shèn)至(zhì)是較小尺寸的(de)CSP0603(0201)封裝的TVS產(chǎn)品都要進行保護。

3.什麽是MIPI VCC VSN VSP VCI

VCC:供電電源,這沒啥(shá)好(hǎo)說的;

VSN、VSP:液(yè)晶驅動電源,就是可(kě)以給控製像素點透光的電容充電,一個正電壓一個負(fù)電壓,還有一種(zhǒng)做法是隻(zhī)有一個正電壓叫AVDD;

VGH、VGL:像素點上開關管的開啟關閉(bì)電壓,加在開關管的柵極上,VGH高電(diàn)平打開(kāi)給(gěi)像素點電容充(chōng)電,VGL 負電壓關閉開關管;

VCOM:液晶像(xiàng)素點的存儲電(diàn)容共(gòng)用電極;

VCI  接口供電電(diàn)壓RESET:液晶屏的重啟引腳;

4.最佳MIPI ESD保護解決方(fāng)案(àn)

為了確保數據線信號傳輸的完整性,電源電壓和相關IC芯片的穩定(dìng)性不受ESD的(de)影響,有必要在與MIPI相對應的線路上增加ESD保護器件。對於複雜的線路要求,目前添加半導體TVS(瞬態電壓抑製器)產品是最佳的保護解決方案。當TVS管的兩端受到瞬時高能衝擊時,它可以以非常快的響應速(sù)度(dù)(<1ns)突然降低阻抗,將(jiāng)大電流引向地麵(miàn),並(bìng)在兩端之間(jiān)施加鉗(qián)位電壓預定值,以確保(bǎo)保護後續電路組件免受瞬(shùn)態高能衝擊。

半導體TVS具有響應時間快,瞬態功率大,電容低,漏電流小,擊(jī)穿電壓(yā)小,鉗位電壓低,尺寸小(xiǎo)和易於安裝的優點。在TVS選(xuǎn)擇中,由於MIPI接口(kǒu)數據線的信號傳輸速率很快,因此建議使用低容量(≤0.5pF)的保護解決方案。另外,由於小尺寸麵板的FPC組件區域的空間有限,在低ESD鉗位電壓的前提(tí)下,還需要(yào)盡(jìn)可能多地選擇小封裝TVS器件。

總而言(yán)之,為了改善電子產品的使用體(tǐ)驗並延長電(diàn)子產品的(de)使用壽命,各種測試要求將不斷增加,而ESD/ EOS的(de)測試需求也將不斷增加(jiā)。另外,當(dāng)前各種類型的(de)IC芯片的(de)製造工藝技術變得越來越先進,導致芯片的公差越來越(yuè)低。為了通過更嚴格的ESD/EOS測試,敏感(gǎn)芯片接口處或附近(jìn)的電路需要考慮一種更有效的保護解決方案(àn)。


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