一種測量線纜屏蔽層好（hǎo）壞的高效辦法

我們將介紹如何使用靜電發生器，電流鉗和示波器，快速測量（liàng）線纜屏蔽質量的好壞。

圖1.ESD信號發生（shēng）器對屏蔽（bì）線纜屏（píng）蔽層放電

圖1顯示了，靜電（diàn）發生器直接注（zhù）入ESD信號到同軸電纜的屏蔽層上。當靜電放電，電流流（liú）過電纜屏蔽層時，一些不希望出現（xiàn）的ESD“信號”會通過屏蔽層和連接（jiē）器中的缺陷泄漏出去。泄（xiè）露量的（de）多少與（yǔ）屏（píng）蔽層阻抗和高頻（pín）特性（xìng）有直接關係。

IEC 61000-4-2 ESD信號發生器的電流波形包含高頻和低頻分量，可參考圖2。高頻分量包（bāo）含在（zài）波形的（de）上升沿中（上升時間小於（yú）1納秒），而上升時（shí）間後半段的幾十納秒波形（xíng）中包含了（le）低頻分量。波形的高頻和低頻分量可（kě）用於快（kuài）速（sù）確定電纜屏蔽層在較寬的（de）頻率（lǜ）範圍內的屏（píng）蔽效果。

 圖2. IEC 61000-4-2中ESD的電流波形

 圖3顯（xiǎn）示了（le）測試布置（zhì）的測量端。測試電纜端接到示波器。電流探（tàn）頭用於測量屏蔽層上流過的ESD電流，電流探頭另（lìng）一端連接到示波器的輸入端。

 圖3.接收端電流探頭和示波器

圖4顯示了，屏蔽層較差的同（tóng）軸電纜的測試情況。靜電發（fā）生器設（shè）置輸出電壓為500V。紅色的測試波形顯示，ESD電（diàn）流波達到1A，且初始（shǐ）上（shàng）升沿電（diàn）壓接近7V，由於高頻阻抗較大的原因，當ESD電流在經過屏蔽層的時候，產生加大的壓降，上升沿電壓值體現了此屏蔽線高頻（pín）特性較差。此外從測試波形看，低頻部分幾（jǐ）十納秒的時間裏，電壓（yā）幅值也偏高，這表明電（diàn）纜屏蔽（bì）層在較低（dī）的頻率下（xià）具（jù）有明顯的阻抗。

圖4測試波形對應的電纜是便宜的同軸電纜，帶有金屬化聚脂薄膜的屏蔽層，在金屬箔的周圍隻有幾根非常細的屏蔽線。

 圖4.高（gāo）阻抗屏蔽電纜電壓和電流波形

 圖5顯示了高質（zhì）量屏蔽的50Ω同軸電纜（雙層屏蔽，屏蔽層編織線稠密）的測試結果。電壓峰值僅為200 mV。另外，電壓響應的低頻分（fèn）量（liàng）很小，這表（biǎo）明屏蔽層的阻（zǔ）抗很低。

 總結：將（jiāng）ESD信號發生器輸出應用於電纜屏蔽層，可以快（kuài）速了解屏蔽層的好壞。並能從測量波形中看出屏（píng）蔽層阻抗的大小和高頻特性的好壞。