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芯片EMC的電路設計和測(cè)試(shì)

更新時間:2019-04-30      點擊次數:2613

芯片EMC的電路設計和測試
電磁兼容測試的電路設計和器件選擇方麵還是非常重視的,一般在(zài)一(yī)個新的項目開發之前就要做好(hǎo)這方麵的準備。所謂EMC就(jiù)是:設備或體係在其電磁環境中(zhōng)能正常作業,且不對該環境中任何事物構成不能承受的電磁打擾的才能。

EMC測驗包含兩大(dà)方麵內容:對其向外界發送的電磁打擾強度進行測驗,以便承認是否契合有關規範規(guī)則的約束值要求;對其(qí)在規則電(diàn)磁打擾強度的電磁環境(jìng)條件下進行敏感(gǎn)度(dù)測驗,以(yǐ)便承(chéng)認是(shì)否契合有關規範規則的抗擾度要求。關於從事單片機使用體係規劃的工程技術人員來說,把握必定的EMC測驗技術是十分必要的。能否以較低的成本得到EMC認可,減少產品因外界原因帶來的成本和(hé)重量,在正確選擇器件(jiàn)以及完(wán)善電路設(shè)計方麵是非常重要的一部分。

這些電路設(shè)計不僅可以提高完整(zhěng)的數字信號,還可以減少重複使用硬件的頻率(lǜ),終將有利於新研發(fā)的(de)產品達到技術要求盡快投入到市(shì)場中去。

下麵先來看下(xià)單片機係統(tǒng)EMC的測試,要確保測試結(jié)果的相對穩定可靠,對測試環境的要(yào)求也是非常高的,在(zài)對電磁兼容測試時,選擇的測試場地要有室外的開闊場(chǎng)地和室內的屏蔽室等等。

然後就是測試設備的選擇,電磁兼容測試的設備可(kě)分為(wéi)兩類,一類室電磁幹擾測試設備(bèi),當這種(zhǒng)設備連(lián)接上合(hé)適(shì)的傳感器,就能減少對測試結(jié)果的(de)幹擾;另一種是(shì)在電磁敏感度測量(liàng),設備模(mó)擬(nǐ)不同幹擾源,通過適當(dāng)的(de)耦(ǒu)合/去耦網絡、傳感(gǎn)器或天線,施加於各類被測設備,用作敏感(gǎn)度或幹擾度測量。

後就要根據電磁兼容性測(cè)試依(yī)據標準的(de)不同(tóng),來尋(xún)找測量的方法,測(cè)量方法歸納起來可分為4類(lèi);傳導發射測試、輻射發射測試、傳導敏感度(抗擾度)測試和輻射敏感度(抗擾度)測試。

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